| 品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 綜合 |
|---|---|---|---|
| 產品系列 | hardLIGHT plasma/beams/TXS | 能量范圍 | 2-30keV |
| 光學構型 | Johann/von Hamos | 晶體選項 | 支持HAPG等晶體 |
| 適用光源 | 擴展源/束線源/臺式源 | TXS能量范圍 | 2-4keV |
| TXS能量分辨率 | 0.3eV | 主光束透射率 | ＞90% |
| 工作模式 | 束流診斷/XES | 定制選項 | 探測器/真空/濾光單元 |
昊量光電/星朗浩宇X射線光譜儀
昊量光電/星朗浩宇X射線光譜儀適用于相關科研和工業(yè)應用場景，具備穩(wěn)定可靠、操作便捷和便于系統(tǒng)集成等特點。
2-30keV寬能覆蓋，全場景 X 射線光譜方案定制
昊量光電深耕 X 射線光譜檢測技術，打造 hardLIGHT 系列高性能 X 射線光譜儀產品矩陣，覆蓋 2-30 keV 寬能段，針對等離子體擴展源、同步輻射 / FEL 束線源、中能臺式 X 射線源三大典型應用場景，推出三款差異化產品：hardLIGHT plasma、hardLIGHT beams與hardLIGHT TXS。
全系列采用高精度晶體色散架構，支持多種光學構型與探測器定制，兼顧高能量分辨率、高光子效率與場景適配性，為聚變研究、材料科學、加速器物理、激光等離子體等領域提供可靠的光譜表征方案。
hardLIGHT plasma 等離子體 X 射線光譜儀
hardLIGHT plasma 是面向擴展型 X 射線源的定制化晶體 X 射線光譜儀，專為核聚變研究、等離子體物理實驗打造，可對大尺寸分布的 X 射線源實現精密的能譜診斷。
能量覆蓋范圍寬，支持 2–30 keV 光子能段
雙光學構型可選：掃描 Johann 型 / 色散 von Hamos 型
晶體與探測器配置靈活，支持 HAPG 等高階晶體選型
全參數可定制，適配不同等離子體實驗的診斷需求
hardLIGHT beams 束線型 X 射線光譜儀
hardLIGHT beams 是面向束線型點光源的 X 射線光譜儀，專為激光驅動等離子體加速器、同步輻射、FEL 光束線等準直點型 X 射線源打造，可實現高精度的 X 射線光譜表征。
針對點型 X 射線源優(yōu)化光路，適配各類專業(yè)束線實驗場景
寬能段覆蓋，支持 2–30 keV 光子能量范圍
提供豐富的定制化選項
hardLIGHT TXS 中能 X 射線光譜儀
hardLIGHT TXS 是 hardLIGHT 系列中聚焦2-4 keV 中能（Tender）X 射線段的緊湊型一體化光譜儀，創(chuàng)新集成在線束流診斷與X 射線發(fā)射光譜（XES）雙工作模式，兼顧束流表征與材料譜學分析能力，是 HHG 光束線、臺式 X 射線激光站的高性價比檢測設備。
診斷模式：非侵入式在線束流表征。采用背散射探針的無干擾光路架構，主光束透射率＞90%，光束經過光譜儀后幾乎無損耗，可直接用于下游實驗，實現真正的非侵入式在線監(jiān)測。支持單發(fā)（single-shot）光譜測量，可實時獲取脈沖 X 射線源的光子能量、光譜分布等關鍵參數，匹配脈沖型 X 射線源的測試需求。
XES 模式：高分辨材料發(fā)射光譜分析。僅需將背散射探針替換為待測樣品，即可快速切換至 X 射線發(fā)射光譜測試模式。儀器集成一體化樣品臺，支持原位 XES 測量，可靈敏捕捉元素化學位移，精密解析材料的電子結構與化學價態(tài)，為電池、催化等領域的材料研究提供核心數據支撐。
雙模一體：背散射式非侵入束流診斷（透射率＞90%），可快速切換 XES 材料測試模式
2–4 keV 能段專屬優(yōu)化，能量分辨率達 0.3 eV，精密分辨化學態(tài)差異
采用 von Hamos 光學架構，電動閉環(huán)晶體調節(jié)，運行穩(wěn)定可靠
機身緊湊便攜，可靈活轉移部署于不同實驗站點
支持探測器、真空等級、濾光單元等多種定制選配
該產品應用領域：
核聚變研究
激光等離子體物理
等離子體放電實驗
同步輻射光束線
X 射線自由電子激光（XFEL）
激光驅動等離子體加速器
高次諧波產生（HHG）光束線
原位譜學實驗
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